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高分辨率專業版電子顯微鏡

產品時間:2017-12-20

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  • Phenom Pro高分辨率專業版電子顯微鏡是飛納電鏡系列中先進的產品,第五代 Phenom Pro 放大倍數提升為 150,000 倍,分辨率優于 8 nm,30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像,是目前世界上分辨率 高的臺式掃描電鏡,可用于測量亞微米或納米尺度的樣品;飛納高分辨率專業版 Phenom Pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點,點擊電鏡特色了解更多。

    Phenom Pro高分辨率專業版電子顯微鏡可選配豐富的拓展功能選件,如 3D 粗糙度重建(3D Roughness Reconstruction)、纖維統計分析測量系統(FiberMetric)、孔徑統計分析測量系統(PoreMetric)、顆粒統計分析測量系統(ParticleMetric)、超大視野拼圖(Auto Image Mapping)、遠程操作等。軟件可以自動采集數據、處理圖片。比如,纖維統計測量系統可以自動識別、測量纖維樣品,而大視野拼圖 則自動采集生成高分辨、大視野的樣品全景照片,等等…

    除此之外,還有各種各樣的樣品杯可供選擇,這些樣品杯使得樣品的裝載更加便利。無論是對于長軸狀樣品,還是生物材料,或者其它種類的材料,總有一款合適的樣品杯可以提供完美的解決方案。

    Phenom Pro

     Phenom ProPhenom ProXPhenom XL
    光學放大20 - 135 X20 - 135 X3 - 16 X
    電子光學放大80 - 150,000 X80 - 150,000 X80 - 100,000 X
    分辨率優于 8 nm優于 8 nm優于 14 nm
    數字放大Max. 12 XMax. 12 XMax. 12 X
    光學導航相機彩色彩色彩色
    加速電壓5 Kv - 15 Kv  連續可調5 Kv - 15 Kv  連續可調5 Kv - 20 Kv  連續可調
    真空模式高分辨率模式高分辨率模式高分辨率模式
    降低荷電效應模式降低荷電效應模式降低荷電效應模式
      高真空模式
    探測器背散射電子探測器背散射電子探測器背散射電子探測器
    二次電子探測器 (選配)二次電子探測器 (選配)二次電子探測器 (選配)
    樣品尺寸 大直徑 32 mm (Ø) 大直徑 32 mm (Ø) 大 100 mm X 100 mm
    可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺
    樣品高度 高 100 mm 高 100 mm 高 65 mm
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